更好的清晰度

高達670萬(wàn)像素的圖像分辨率提供令人滿(mǎn)意的亮度、對比度、空間分辨率、景深以及灰度，向您呈現更清晰的圖像，并進(jìn)一步簡(jiǎn)化您的分析。

更快速的檢測

高達30幀/秒的增強版實(shí)時(shí)檢測技術(shù)可實(shí)現實(shí)時(shí)圖像處理，快速提供最佳圖片以最大化處理量。

保持圖像銳度

QuadraNT? X射線(xiàn)管提供的高分辨率圖像在高倍放大下仍能保持無(wú)與倫比的清晰度QuadraNT?為您提供銳利清晰的圖像，特征分辨率為0.1微米時(shí)，目標功率達10瓦，或特征分辨率為0.3微米時(shí)，目標功率達20瓦。

易于使用

機殼的設計符合人體工程學(xué)，可優(yōu)化用戶(hù)與系統交互的方式操作人員可迅速啟動(dòng)和運行可直觀(guān)操作的Gensys?檢測軟件。

獨特的集成技術(shù)

Explorer? one 在圖像鏈的每個(gè)步驟都具有專(zhuān)有技術(shù)，從生成和檢測X射線(xiàn)到圖像增強和測量。每個(gè)組件都有一個(gè)目的：為電子檢測創(chuàng )建最高質(zhì)量的圖像。

Quadra^? X射線(xiàn)管技術(shù)

高質(zhì)量的圖像從X射線(xiàn)源開(kāi)始。Explorer one使用QuadraNT^?X射線(xiàn)管技術(shù)（也適用于我們的Quadra系列X 射線(xiàn)檢測工具）在每個(gè)功率級提供市場(chǎng)領(lǐng)先的圖像質(zhì)量，而無(wú)需維護。

專(zhuān)門(mén)設計用于電子器件的檢測

能查看小至2μm的產(chǎn)品特性，這種高清細節的檢測功能與只是 檢測鍵合是否存在有著(zhù)很大的區別。專(zhuān)為Explorer one 開(kāi)發(fā)的AspireFP? one平板探測器經(jīng)過(guò)優(yōu) 化，能在電子樣品中實(shí)現最高對比度。

顯示最精細的細節

超過(guò)30種先進(jìn)的過(guò)濾器可以顯示最清晰的圖像并展示最精細的細節，讓您更快地找到特征和缺陷。

一直朝上

絕對不會(huì )看錯方向。無(wú)論您從哪個(gè)側面觀(guān)察，Explorer one 獨特的雙軸傾斜觀(guān)察功能均可使電路板朝上，樣品肯定不會(huì )旋轉。

Jade Plus可以獨特地檢測您的產(chǎn)品品質(zhì)。

內置尺寸測量工具、BGA空洞分析、凸點(diǎn)直徑和圓度以及通孔填充，可快速查找并表征缺陷，幫助您達到IPC-A-610和IPC-7095合規標準。

0.95μm解析度決定了是否能在無(wú)源元件中發(fā)現微裂紋。

諾信DAGE雙傾斜角探測器的獨特幾何結構是檢測缺陷的最快路徑，而這些缺陷僅在特定視角下才能看見(jiàn)。

第四代開(kāi)放管技術(shù)非常適合以微米級解析度檢測電子樣品。

Gensys軟件專(zhuān)為電子檢測而開(kāi)發(fā)，將全面的測量工具和自動(dòng)化整合到一個(gè)可以快速學(xué)會(huì )的直觀(guān)點(diǎn)擊式平臺中，因此您可以更快地獲得最大的生產(chǎn)力。

QuadraGEN專(zhuān)為Quadra?系列高解析度X射線(xiàn)檢測系統而設計，可提供高質(zhì)量X射線(xiàn)圖像所需的功率和穩定性。

高速AXI系統用于在線(xiàn)檢測

微焦斑X射線(xiàn)燈管(閉管/免維護)

帶線(xiàn)性馬達驅動(dòng)的多軸可編程運動(dòng)系統

數字CMOS平板探測器

自動(dòng)灰階和幾何校準

條形碼掃描槍可用于讀取序列號和檢測程序切換

支持多種工業(yè)4.0標準的MES接口，實(shí)現全檢測流程可追溯

符合IPC-CFX標準

靈活的AXI系統，可用于在線(xiàn)或離線(xiàn)自動(dòng)化檢測

微焦斑X射線(xiàn)燈管（閉管/免維護）

多軸可編程伺服馬達傳動(dòng)系統

數字CMOS平板探測器

自動(dòng)灰階幾何及校驗

靈活配置：可提供在線(xiàn)Pass through模式或同側進(jìn)出板配置

配置條碼掃描槍后可進(jìn)行條碼讀取及機種選擇

客制化的MES平臺提供了完整的追蹤系統接口