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CN/EN

SEMICON & OPTO半導體設備

半導體設備

自動(dòng)光學(xué)檢測儀

Pemtron ATHENA 3D AOI

ATHENA

  1. 先進(jìn)的高速度檢測和測量技術(shù)

  2. 高元件檢測技術(shù)

  3. 無(wú)陰影3D技術(shù)

  4. 光學(xué)字體核對

  5. 3D焊錫高度測量

  6. 3D引腳檢測

  7. 2D RGB算法

Jin Bun自動(dòng)光學(xué)檢測

E-3000

  1. 客制化:滿(mǎn)足客戶(hù)個(gè)別需求,量身訂做特殊功能

  2. 高解析度:可判別微少不良

  3. 共用性高:搭載變倍鏡頭,更換晶片規格只需調整倍率,不需更換鏡頭

  4. 圖像存儲:可存儲存各站正、反面NG及OK最近檢測各200筆圖像

  5. 圖像顯示:運行可即時(shí)顯示各站良品或不良品圖像

  6. 自訂分類(lèi):可自由設定不良名稱(chēng)及吹氣分類(lèi),方便管理。

  7. SSD硬碟:利用先進(jìn)電腦硬體,快速開(kāi)機,減少等待時(shí)間

  8. 人性介面:容易操作使用。

  9. 高定位精度:采用超高解析度ENCODER,不誤判混料,不洗盤(pán)

  10. 生產(chǎn)統計顯示:可即時(shí)顯示各站各項不良統計值。